ASTM F1893-18

ASTM F1893-18

Название на английском:
ASTM F1893-18

Название на русском:
ASTM F1893-18

Описание на английском:
Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Survivability and Burnout of Semiconductor Devices

Описание на русском:
Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Survivability and Burnout of Semiconductor Devices

Статус документа:
Действующий

Формат:
Electronic (PDF)

Количество страниц:
7

Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия документа):
3 рабочих дней

Артикул (SKU):
ASTM11055

Выберите версию документа:
560 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

ASTM E861-13
Standard Practice for Evaluating Thermal Insulation Materials for Use in Solar Collectors
560 руб.
ASTM F3007-13
Standard Test Method for Ball Drop Impact Resistance of Laminated Architectural Flat Glass
560 руб.
ASTM B417-18
Standard Test Method for Apparent Density of Non-Free-Flowing Metal Powders Using the Carney Funnel
560 руб.
ASTM D4106-15
Standard Test Method for (Analytical Procedure) for Determining Transmissivity and Storage Coefficient of Nonleaky Confined Aquifers by the Theis Nonequilibrium Method
560 руб.
ASTM D1043-16
Standard Test Method for Stiffness Properties of Plastics as a Function of Temperature by Means of a Torsion Test
840 руб.
ASTM F1210-14
Standard Guide for Ecological Considerations for the Use of Oil Spill Dispersants in Freshwater and Other Inland Environments, Lakes and Large Water Bodies
560 руб.