МЭК 60147-1:1972

МЭК 60147-1:1972

Название на английском:
IEC 60147-1:1972

Название на русском:
МЭК 60147-1:1972

Описание на английском:
Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1 : Essential ratings and characteristics

Описание на русском:
Основные номинальные параметры и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 1. Основные номинальные параметры и характеристики

Статус документа:
Заменен