МЭК 60147-2:1963

МЭК 60147-2:1963

Название на английском:
IEC 60147-2:1963

Название на русском:
МЭК 60147-2:1963

Описание на английском:
Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods

Описание на русском:
Основные номинальные параметры и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 2. Общие принципы измерений

Статус документа:
Заменен