МЭК 60147-2J:1978

МЭК 60147-2J:1978

Название на английском:
IEC 60147-2J:1978

Название на русском:
МЭК 60147-2J:1978

Описание на английском:
Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods. Ninth supplement: Chapter VII: Analogue integrated circuits

Описание на русском:
Основные номинальные параметры и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 2. Общие принципы измерений. 9-ое дополнение. Глава VII: Аналоговые интегральные схемы

Статус документа:
Заменен