МЭК 60191-2:1966/Изм.18:2011

МЭК 60191-2:1966/Изм.18:2011

Название на английском:
IEC 60191-2:1966/Amd.18:2011

Название на русском:
МЭК 60191-2:1966/Изм.18:2011

Описание на английском:
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 2: Dimensions. Amendment 18

Описание на русском:
Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры. Изменение 18

Статус документа:
Действующий

Формат:
Electronic (PDF)

Количество страниц:
54

Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия документа):
6 рабочих дней

Артикул (SKU):
IEC000882

Выберите версию документа:
840 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

МЭК 60793-1-51:2014
Волокна оптические. Часть 1-51. Методы измерения и методики испытаний. Испытания сухим теплом (установившийся режим)
840 руб.
МЭК 62899-302-1:2017
Печатная электроника. Часть 302-1. Оборудование. Струйное печатающее устройство. Измерение скорости впрыскивания на основе изображений
840 руб.
МЭК 60332-2-2:2004
Кабели электрические и волоконно-оптические. Испытания в условиях пожара. Часть 2-2. Вертикальное распространение пламени для одного небольшого изолированного провода или кабеля. Процедура распространения пламени
840 руб.
МЭК 62788-1-2:2016
Методы измерения свойств материалов, используемых в фотоэлектрических модулях. Часть 1-2. Герметики. Измерение объемного электрического удельного сопротивления фотоэлектрических герметиков и других полимерных материалов
840 руб.
МЭК 60759:1983
Спектрометры полупроводниковые энергии рентгеновского излучения. Стандартные методы испытаний
1 050 руб.
МЭК/ТС 61189-3-301:2016
Методы испытаний электрических материалов, печатных плат и других структур межсоединений и печатных узлов. Часть 3-301. Методы испытаний структур межсоединений (печатных плат). Метод визуального контроля плакированных поверхностей печатных плат (PWB)
840 руб.