МЭК 60747-14-1:2010

МЭК 60747-14-1:2010

Название на английском:
IEC 60747-14-1:2010

Название на русском:
МЭК 60747-14-1:2010

Описание на английском:
Semiconductor devices - Part 14-1: Semiconductor sensors - Generic specification for sensors

Описание на русском:
Приборы полупроводниковые. Часть 14-1. Датчики полупроводниковые. Общие технические условия для датчиков

Статус документа:
Действующий

Формат:
Electronic (PDF)

Количество страниц:
46

Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия документа):
5 рабочих дней

Артикул (SKU):
IEC002760

Выберите версию документа:
840 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

МЭК 62137:2004
Испытание на долговечность и воздействие окружающей среды. Методы испытания печатных плат поверхностного монтажа для корпусов контактного матричного типа FBGA, BGA, FLGA, LGA, SON и QFN
840 руб.
МЭК 60235-7:1972
Приборы СВЧ. Измерение электрических параметров и характеристик. Часть 7: Газонаполненные переключающие приборы СВЧ
840 руб.
МЭК 60517:1990/Изм.1:1994
Аппаратура коммутационная бронированная с элегазовой изоляцией на номинальное напряжение 72, 5 кВ и выше. Изменение 1
1 050 руб.
МЭК 60050-845:1987/Изм.1:2016
Международный электротехнический словарь. Глава 845. Освещение. Изменение 1
560 руб.
МЭК 60510-1-2:1984
Радиоаппаратура, используемая на станциях спутниковой связи. Методы измерения параметров. Часть 1: Методы измерений, общие для подсистем и их комбинаций. Раздел 2: Измерения в радиочастотном диапазоне
840 руб.
МЭК 60746-2:2003
Анализаторы электрохимические. Выражение характеристик. Часть 2: Значение pH
840 руб.