МЭК 60747-4:2007

МЭК 60747-4:2007

Название на английском:
IEC 60747-4:2007

Название на русском:
МЭК 60747-4:2007

Описание на английском:
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave diodes and transistors

Описание на русском:
Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы. Часть 4. Сверхвысокочастотные диоды и транзисторы

Статус документа:
Действующий

Формат:
Электронный (pdf/doc)

Количество страниц:
280

Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия документа):
28 рабочих дней

Артикул (SKU):
IEC007757

Выберите версию документа:
3 500 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

МЭК 60761-3:1983
Аппаратура для непрерывного контроля радиоактивности в газовых выбросах. Часть 3: Специальные требования к измерителям-сигнализаторам (мониторам) благородных газов в выбросах.
3 500 руб.
МЭК 62110:2009/Попр.1:2015
Уровни электрических и магнитных полей, генерированных энергетическими системами переменного тока. Процедуры измерения с учетом влияния на людей. Поправка 1
3 500 руб.
МЭК 61109:1992/Изм.1:1995
Изоляторы комбинированные для воздушных линий передачи переменного тока при номинальном напряжении свыше 1000 В. Определения, методы испытаний и критерии приемки. Изменение 1
3 500 руб.
МЭК 60335-2-54:2004
Приборы электрические бытового и аналитического назначения. Безопасность. Часть 2-54. Частные требования к приборам очистки поверхности бытового назначения с помощью жидкостей или пара
3 500 руб.
МЭК 60191-6-1:2001
Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6-1. Общие правила составления габаритных чертежей для монтажа корпусов полупроводниковых приборов. Руководство по проектированию выводов с формой типа "крыла чайки"
3 500 руб.
МЭК/TR2 60727-2:1993
Системы изоляции электрооборудования. Оценка устойчивости к длительному воздействию электрического поля. Часть 2: Методики оценки, основанные на распределениях экстремальных значений
3 500 руб.