МЭК 60747-8-1:1987

МЭК 60747-8-1:1987

Название на английском:
IEC 60747-8-1:1987

Название на русском:
МЭК 60747-8-1:1987

Описание на английском:
Semiconductor devices - Discrete devices. Part 8: Field-effect transistors. Blank detail specification for single-gate field-effect transistors, up to 5 W and 1 GHz

Описание на русском:
Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Раздел 1: Типовая форма частных технических условий: полевые транзисторы с одним затвором мощностью до 5 Вт и частотой 1 ГГц

Статус документа:
Утратил силу

Формат:
Electronic (PDF)

Количество страниц:
38

Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия документа):
4 рабочих дней

Артикул (SKU):
IEC002793

Выберите версию документа:
840 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

МЭК 60068-2-6:2007
Испытания на воздействие внешних факторов. Часть 2: Испытания. Испытание Fc: Вибрация (синусоидальная)
840 руб.
МЭК 61558-2-14:2012
Трансформаторы, реакторы, блоки питания и их комбинации. Безопасность. Часть 2-14. Частные требования и испытания регулируемых трансформаторов и блоков питания, включающих регулируемые трансформаторы
840 руб.
МЭК/ТС 61936-2:2015
Установки электрические напряжением свыше 1 кВ переменного тока и 1,5 кВ постоянного тока. Часть 2. Постоянный ток
840 руб.
МЭК 60947-5-2:2012
Устройства распределительные комплектные низковольтные. Часть 5-2. Устройства и коммутационные элементы цепей управления. Бесконтактные переключатели
1 050 руб.
МЭК 62677-3-102:2018
Профили литые термоусадочные для кабельной арматуры низкого и среднего напряжения. Часть 3. Технические условия на конкретные материалы. Лист 102. Термоусадочные полиолефиновые трекингостойкие литые профили для среднего напряжения
840 руб.
МЭК 60739:1983
Измерители скорости счета цифровые. Характеристики и методы испытаний
840 руб.