МЭК 60749-10:2002

МЭК 60749-10:2002

Название на английском:
IEC 60749-10:2002

Название на русском:
МЭК 60749-10:2002

Описание на английском:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 10. Mechanical shock

Описание на русском:
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 10. Механический удар

Статус документа:
Действующий

Формат:
Electronic (PDF)

Количество страниц:
16

Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия документа):
2 рабочих дней

Артикул (SKU):
IEC002841

Выберите версию документа:
840 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

МЭК 60770-3:2014
Датчики систем управления технологическим процессом. Часть 3. Методы оценки рабочих характеристик интеллектуальных датчиков
1 050 руб.
МЭК 60955:1989
Магистраль обработки данных типа C (PROWAY C) для систем управления распределенными процессами
2 800 руб.
МЭК 60884-2-1:2006
Вилки и розетки бытового и аналогичного назначения. Часть 2-1. Частные требования к вилкам с плавкими предохранителями
840 руб.
МЭК 60554-3-2:1983
Технические требования к целлюлозной бумаге электротехнического назначения. Лист 2: Конденсаторная бумага
840 руб.
МЭК 61340-4-6:2015
Электростатика. Часть 4-6. Стандартные методы испытаний для специальных случаев применения. Антистатические браслеты
840 руб.
МЭК 60512-20-3:2010
Соединители для электронного оборудования. Испытания и измерения. Часть 20-3. Испытания на пожароопасность. Испытание 20с. Воспламеняемость, накаленный провод
840 руб.