МЭК 60749-15:2010

МЭК 60749-15:2010

Название на английском:
IEC 60749-15:2010

Название на русском:
МЭК 60749-15:2010

Описание на английском:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices

Описание на русском:
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 15. Стойкость к температуре пайки при штырьковом монтаже приборов

Статус документа:
Действующий

Формат:
Electronic (PDF)

Количество страниц:
18

Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия документа):
2 рабочих дней

Артикул (SKU):
IEC002849

Выберите версию документа:
840 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

МЭК 61112:2009
Работа под напряжением. Оболочки из изоляционных материалов
840 руб.
МЭК 60068-2-40:1976
Испытания на воздействия внешних факторов. Часть 2. Испытания. Испытание Z/AM. Комбинированное испытание на воздействие холода и пониженного атмосферного давления
840 руб.
МЭК 60044-1:2003
Трансформаторы измерительные. Часть 1. Трансформаторы тока
1 050 руб.
МЭК 61068-3-1:1995
Ленты тканые из полиэфирного волокна. Технические условия. Часть 3: Технические условия на отдельные материалы. Лист 1: Ленты, изготовленные на обычных или бесчелночных ткацких станках
840 руб.
МЭК/ТС 60479-2:2017
Воздействие тока на людей и сельскохозяйственных животных. Часть 2. Специальные аспекты
840 руб.
МЭК 60191-2:1966/Изм.8:2003
Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры. Изменение 8
840 руб.