МЭК 60749-19:2003

МЭК 60749-19:2003

Название на английском:
IEC 60749-19:2003

Название на русском:
МЭК 60749-19:2003

Описание на английском:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength

Описание на русском:
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 19. Прочность кристалла на сдвиг

Статус документа:
Действующий

Формат:
Электронный (pdf/doc)

Количество страниц:
14

Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия документа):
2 рабочих дней

Артикул (SKU):
IEC007652

Выберите версию документа:
3 500 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

МЭК 60335-1:2004
Приборы электрические бытового и аналогичного назначения. Безопасность. Часть 1: Общие требования
3 500 руб.
МЭК 62115:2017
Игрушки электрические. Безопасность
3 500 руб.
МЭК 60051-3:1984
Приборы аналоговые, электроизмерительные, показывающие, прямого действия и части к ним. Часть 3. Специальные требования к ваттметрам и варметрам
3 500 руб.
МЭК 60974-9:2010
Оборудование для дуговой сварки. Часть 9. Установка и применение
3 500 руб.
МЭК 62595-2-3:2018
Осветительная система жидкокристаллических дисплеев. Часть 2-3. Электро-оптические методы измерений системы подсветки светодиодов спереди
3 500 руб.
МЭК 60318-5:2006
Электроакустика. Имитаторы человеческой головы и уха. Часть 5. Куплер 2 см куб. для испытания слуховых аппаратов и слуховых телефонов, подсоединяемый к уху с помощью ушных вкладышей
3 500 руб.