МЭК 60749-2:2002

МЭК 60749-2:2002

Название на английском:
IEC 60749-2:2002

Название на русском:
МЭК 60749-2:2002

Описание на английском:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 2. Low air pressure

Описание на русском:
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 2. Пониженное атмосферное давление

Статус документа:
Действующий

Формат:
Electronic (PDF)

Количество страниц:
20

Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия документа):
2 рабочих дней

Артикул (SKU):
IEC002854

Выберите версию документа:
840 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

МЭК 60519-2:2006
Установки электронагревательные. Безопасность. Часть 2. Частные требования к установкам для нагрева сопротивлением
840 руб.
МЭК/ТР 62711:2011
Мнемоника и обозначения символов для измерительных реле, инструментов и связанных с ними устройств
840 руб.
МЭК 60761-5:2002
Аппаратура для непрерывного контроля радиоактивности в газовых выбросах. Часть 5. Специальные требования к мониторам трития в выбросах
840 руб.
МЭК 61249-2-44:2016
Материалы для печатных плат и других структур межсоединений. Часть 2-44. Материалы основания армированные фольгированные и нефольгированные. Листы армированные слоистые на основе тканого или нетканого стекловолокна E-типа, пропитанного негалогенированной эпоксидной смолой, нормированной горючести (вертикальный тест горения), фольгированные медью для бессвинцовой сборки
840 руб.
МЭК/ТР 63191:2018
Управление качеством электроснабжения со стороны потребителя
3 500 руб.
МЭК 62026-7:2010
Устройства распределительные комплектные низковольтные. Интерфейсы между контроллером и прибором (CDIs). Часть 7. CompoNet
1 750 руб.