МЭК 60749-3:2002

МЭК 60749-3:2002

Название на английском:
IEC 60749-3:2002

Название на русском:
МЭК 60749-3:2002

Описание на английском:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 3. External visual examination

Описание на русском:
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр

Статус документа:
Заменен