МЭК 60749-40:2011

МЭК 60749-40:2011

Название на английском:
IEC 60749-40:2011

Название на русском:
МЭК 60749-40:2011

Описание на английском:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge

Описание на русском:
Полупроводниковые приборы. Методы климатических и механических испытаний. Часть 40. Метод испытания на падение с бортового уровня с использованием датчика деформаций

Статус документа:
Действующий

Формат:
Electronic (PDF)

Количество страниц:
48

Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия документа):
5 рабочих дней

Артикул (SKU):
IEC002881

Выберите версию документа:
840 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

МЭК 62271-100:2012
Устройства распределительные комплектные высоковольтные. Часть 100. Высоковольтные автоматические выключатели переменного тока
2 800 руб.
МЭК 60231G:1977
Контрольно-измерительная аппаратура для ядерных реакторов. Общие принципы. 7-е дополнение: Реакторы на быстрых нейтронах, охлаждаемые жидким металлом
840 руб.
МЭК 61727:2004
Системы фотоэлектрические. Характеристики вспомогательного интерфейса
840 руб.
МЭК 61300-3-27:1997
Устройства соединительные и пассивные компоненты волоконно-оптические. Основные методы испытаний и измерений. Часть 3-27. Проверки и измерения. Метод измерения для определения положения отверстий в штепсельном разъеме многоконтактного соединителя
840 руб.
МЭК 60749-26:2018
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду. Модель человеческого тела
840 руб.
МЭК 60721-2-8:1994
Классификация внешних условий. Часть 2-8: Природные внешние условия. Воздействие пожара
840 руб.