МЭК 60749-40:2011

МЭК 60749-40:2011

Название на английском:
IEC 60749-40:2011

Название на русском:
МЭК 60749-40:2011

Описание на английском:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge

Описание на русском:
Полупроводниковые приборы. Методы климатических и механических испытаний. Часть 40. Метод испытания на падение с бортового уровня с использованием датчика деформаций

Статус документа:
Действующий

Формат:
Electronic (PDF)

Количество страниц:
48

Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия документа):
5 рабочих дней

Артикул (SKU):
IEC002881

Выберите версию документа:
840 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

МЭК 61436:1998
Аккумуляторы и батареи, содержащие щелочи или другие некислотные электролиты. Герметичные никель-металлические гидридные перезаряжаемые отдельные элементы
840 руб.
МЭК 62616:2010
Оборудование и системы для морской навигации. Мостовая навигационная система аварийной сигнализации (BNWAS)
840 руб.
МЭК/ТР 61375-2-7:2014
Оборудование электронное железнодорожное. Сеть поездной связи (TCN). Часть 2-7. Беспроводная поездная магистральная шина (WLTB)
840 руб.
МЭК 61076-3-120:2016
Соединители для электронной аппаратуры. Требования к продукции. Часть 3-120. Прямоугольные соединители. Частные технические условия на разборные силовые разъемы с защелкивающимся замком на номинальное напряжение 250 В постоянного тока и номинальный ток 30 А
840 руб.
МЭК 62153-4-8:2018
Кабели металлические и другие пассивные компоненты. Методы испытаний. Часть 4-8. Электромагнитная совместимость. Проводимость емкостного соединения
840 руб.
МЭК 62271-110:2017/Попр.2:2018
Устройства распределительные комплектные высоковольтные. Часть 110. Переключение индуктивной нагрузки. Поправка 2
560 руб.