МЭК 60749-6:2002/Попр.1:2003

МЭК 60749-6:2002/Попр.1:2003

Название на английском:
IEC 60749-6:2002/Cor.1:2003

Название на русском:
МЭК 60749-6:2002/Попр.1:2003

Описание на английском:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 6. Storage at high temperature. Corrigendum 1

Описание на русском:
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре. Поправка 1

Статус документа:
Заменен