МЭК 60749-6:2002

Название на английском:
IEC 60749-6:2002

Название на русском:
МЭК 60749-6:2002

Описание на английском:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 6. Storage at high temperature

Описание на русском:
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре