МЭК 60749-7:2002

МЭК 60749-7:2002

Название на английском:
IEC 60749-7:2002

Название на русском:
МЭК 60749-7:2002

Описание на английском:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 7. Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

Описание на русском:
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов

Статус документа:
Заменен