Название на английском:
IEC 60749-7:2011
Название на русском:
МЭК 60749-7:2011
Описание на английском:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Описание на русском:
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов