МЭК 60749-8:2002/Попр.2:2003

МЭК 60749-8:2002/Попр.2:2003

Название на английском:
IEC 60749-8:2002/Cor.2:2003

Название на русском:
МЭК 60749-8:2002/Попр.2:2003

Описание на английском:
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 8. Sealing. Corrigendum 2

Описание на русском:
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 8. Герметичность. Поправка 2

Статус документа:
Действующий

Формат:
Electronic (PDF)

Количество страниц:
1

Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия документа):
2 рабочих дней

Артикул (SKU):
IEC002890

Выберите версию документа:
560 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

МЭК 60156:2018
Жидкости изоляционные. Определение напряжения пробоя на промышленной частоте. Метод определения
840 руб.
МЭК 61160:2005
Анализ проекта
840 руб.
МЭК 61158-5-10:2014
Сети производственной связи. Спецификации полевых шин. Часть 5-10. Определение сервиса прикладного уровня. Элементы типа 10
5 600 руб.
МЭК 62888-1:2018
Измерение расхода энергии в вагоне железнодорожных поездов. Часть 1. Общие положения
840 руб.
МЭК/ТС 60695-1-14:2017
Испытания на пожароопасность. Часть 1-14. Руководство по уровням мощности и энергии, способным вызвать воспламенение и пожар в электротехнической продукции низкого напряжения
840 руб.
МЭК 61188-7:2017
Печатные платы и печатные узлы. Проектирование и применение. Часть 7. Нулевая ориентация электронных компонентов для создания библиотек САПР
840 руб.