МЭК 60749-8:2002/Попр.2:2003

МЭК 60749-8:2002/Попр.2:2003

Название на английском:
IEC 60749-8:2002/Cor.2:2003

Название на русском:
МЭК 60749-8:2002/Попр.2:2003

Описание на английском:
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 8. Sealing. Corrigendum 2

Описание на русском:
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 8. Герметичность. Поправка 2

Статус документа:
Действующий

Формат:
Electronic (PDF)

Количество страниц:
1

Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия документа):
2 рабочих дней

Артикул (SKU):
IEC002890

Выберите версию документа:
560 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

МЭК 62670-2:2015
Концентраторы фотоэлектрические. Испытания для определения рабочих характеристик. Часть 2. Измерение энергии
840 руб.
МЭК 61788-7:2006
Сверхпроводимость. Часть 7. Измерение электронных характеристик. Поверхностное сопротивление суперпроводников на микроволновых частотах
840 руб.
МЭК/ТР 62572-2:2008
Компоненты и устройства волоконно-оптические активные. Стандарты на надежность. Часть 2. Разрушение лазерного модуля
840 руб.
МЭК/ТР 61930:1998
Обозначения графические для волоконной оптики
840 руб.
МЭК/ТР 61131-8:2017
Измерение и управление производственным процессом. Контроллеры программируемые. Часть 8. Руководящие указания по применению и реализации языков программирования
1 050 руб.
МЭК 62047-30:2017
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 30. Методы измерения характеристик электромеханического преобразования пьезоэлектрических тонких пленок MEMS
840 руб.