МЭК 60749-9:2002

Название на английском:
IEC 60749-9:2002

Название на русском:
МЭК 60749-9:2002

Описание на английском:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 9. Permanence of marking

Описание на русском:
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 9. Постоянство (прочность) маркировки