Название на английском:
IEC 60759:1983
Название на русском:
МЭК 60759:1983
Описание на английском:
Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
Описание на русском:
Спектрометры полупроводниковые энергии рентгеновского излучения. Стандартные методы испытаний
Статус документа:
Действующий
Формат:
Electronic (PDF)
Количество страниц:
102
Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия документа):
11 рабочих дней
Артикул (SKU):
IEC002902
Также интересуются следующими документами
МЭК 61800-2:2015
Системы силовых электроприводов с регулируемой скоростью. Часть 2. Общие требования. Номинальные технические характеристики низковольтных систем силовых электроприводов переменного тока с регулируемой скоростью
1 050 руб.
МЭК 61300-3-12:1997
Устройства соединительные и пассивные компоненты волоконно-оптические. Основные методы испытаний и измерений. Часть 3-12. Проверки и измерения. Поляризационная зависимость затухания одномодовых волоконно-оптических компонентов. Матричный метод расчета
840 руб.
МЭК 60603-2:1995
Соединители для печатных плат на частоты до 3 МГц. Часть 2: Частные технические условия на соединители оцененного качества, состоящие из двух частей, с общими монтажными характеристиками, предназначенные для применения с печатными платами, имеющими шаг координатной сетки 2,54 мм (0,1 дюйма)
1 050 руб.
МЭК 62908-12-10:2017
Дисплеи сенсорные и интерактивные. Часть 12-10. Методы измерений сенсорных дисплеев. Сенсорные и электрические параметры
840 руб.
МЭК 61892-2:2012
Основания морские передвижные и стационарные. Электрические установки. Часть 2. Системный проект
840 руб.