Название на английском:
IEC 60759:1983
Название на русском:
МЭК 60759:1983
Описание на английском:
Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
Описание на русском:
Спектрометры полупроводниковые энергии рентгеновского излучения. Стандартные методы испытаний
Статус документа:
Действующий
Формат:
Electronic (PDF)
Количество страниц:
102
Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия документа):
11 рабочих дней
Артикул (SKU):
IEC002902
Также интересуются следующими документами
МЭК 60584-3:2007
Термопары. Часть 3: Удлинительные и компенсационные кабели. Допуски и система идентификации
840 руб.
МЭК 60617-8:1996
Обозначения условные графические для схем. Часть 8: Измерительные приборы, лампы и сигнальные устройства
840 руб.
СИСПР 18-3:1986
Характеристики радиопомех от воздушных линий электропередачи и высоковольтного оборудования. Часть 3. Практическое руководство по сведению к минимуму радиопомех
840 руб.
МЭК/ТР 61850-90-5:2012
Сети и системы связи для автоматизации энергосистем общего пользования. Часть 90-5. Использование IEC 61850 для передачи информации синхронизатора согласно IEEE C37.118
1 050 руб.
