Название на английском:
IEC 60759:1983
Название на русском:
МЭК 60759:1983
Описание на английском:
Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
Описание на русском:
Спектрометры полупроводниковые энергии рентгеновского излучения. Стандартные методы испытаний