МЭК 62047-12:2011

МЭК 62047-12:2011

Название на английском:
IEC 62047-12:2011

Название на русском:
МЭК 62047-12:2011

Описание на английском:
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures

Описание на русском:
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 12. Метод испытания на усталость при сгибании тонкопленочных материалов с использованием структур MEMS

Статус документа:
Действующий

Формат:
Electronic (PDF)

Количество страниц:
64

Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия документа):
7 рабочих дней

Артикул (SKU):
IEC005638

Выберите версию документа:
840 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

МЭК 62675:2014
Аккумуляторы и аккумуляторные батареи, содержащие щелочной или другие некислотные электролиты - Герметичные призматические никель-металл-гидридные аккумуляторы
840 руб.
МЭК/IEEE 62659:2015
Нанопроизводство. Крупносерийное производство наноэлектроники
840 руб.
МЭК 62813:2015
Конденсаторы ионно-литиевые, используемые в электрическом и электронном оборудовании. Методы испытаний для определения электрических характеристик
840 руб.
МЭК 60598-2-13:2016
Светильники. Часть 2-13. Частные требования. Светильники, углубленные в земле
840 руб.
МЭК 60748-2-2:1992/Изм.1:1994
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 2: Цифровые интегральные схемы. Раздел 2: Серийные технические условия на цифровые интегральные схемы с высокой плотностью упаковки (HCMOS), серий 54/74 HC, 54/74 HCT, 54/74 HCU. Изменение 1
560 руб.
МЭК 60287-2-3:2017
Кабели электрические. Расчет номинальной токовой нагрузки. Часть 2-3. Тепловое сопротивление. Кабели, проложенные в вентилируемых туннелях
840 руб.