МЭК 62047-12:2011

МЭК 62047-12:2011

Название на английском:
IEC 62047-12:2011

Название на русском:
МЭК 62047-12:2011

Описание на английском:
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures

Описание на русском:
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 12. Метод испытания на усталость при сгибании тонкопленочных материалов с использованием структур MEMS

Статус документа:
Действующий

Формат:
Электронный (PDF)

Количество страниц:
64

Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия документа):
10 рабочих дня(ей)

Артикул (SKU):
IEC008173

Выберите версию документа:
840 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

МЭК 60384-14:2013
Конденсаторы постоянной емкости для электронной аппаратуры. Часть 14. Групповые технические условия. Конденсаторы постоянной емкости для подавления радиопомех и подключения к питающей магистрали
1 050 руб.
МЭК 61869-5:2011
Трансформаторы измерительные. Часть 5. Дополнительные требования к емкостным трансформаторам напряжения
1 050 руб.
МЭК 82304-1:2016
Медицинское программное обеспечение. Часть 1. Общие требования к безопасности программных продуктов
840 руб.
МЭК 60915:2006
Конденсаторы постоянной емкости для электронного оборудования. Предпочтительные размеры концов валов, втулок и размеры для монтажа в одном отверстии, втулке электронных компонентов, приводимых в действие с помощью вала
840 руб.
МЭК/ТР 60268-18:1995
Оборудование звуковых систем. Часть 18: Пиковые измерители уровня передачи. Пиковый измеритель уровня звукового цифрового сигнала
840 руб.
МЭК 61298-2:2008
Устройства измерения и управления в производственных процессах. Общие методы и процедуры оценки рабочих характеристик. Часть 2: Испытания в контрольных условиях
840 руб.