МЭК 62047-12:2011

МЭК 62047-12:2011

Название на английском:
IEC 62047-12:2011

Название на русском:
МЭК 62047-12:2011

Описание на английском:
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures

Описание на русском:
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 12. Метод испытания на усталость при сгибании тонкопленочных материалов с использованием структур MEMS

Статус документа:
Действующий

Формат:
Electronic (PDF)

Количество страниц:
64

Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия документа):
7 рабочих дней

Артикул (SKU):
IEC005638

Выберите версию документа:
840 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

МЭК 61988-2-5:2012
Панели индикаторные плазменные. Часть 2-5. Методы измерения. Акустический шум
840 руб.
МЭК 60384-11:2008
Конденсаторы постоянной емкости для электронной аппаратуры. Часть 11: Групповые технические условия. Конденсаторы постоянной емкости с пленочным полиэтилентерефталатным диэлектриком и электродами из металлической фольги для работы в цепях постоянного тока
840 руб.
МЭК 61580-4:1997/Попр.1:2006
Волноводы. Методы измерения. Часть 4. Коэффициент затухания волновода и волноводных блоков. Поправка 1
560 руб.
МЭК 61000-4-27:2009
Электромагнитная совместимость. Часть 4-27. Методы испытаний и измерений. Испытание на помехоустойчивость к несимметричному напряжению для оборудования, рассчитанного на входной ток не выше 16 А на фазу
840 руб.
МЭК/ТР 60479-5:2007
Воздействие тока на людей и домашних животных. Часть 5. Пороговые значения напряжения касания для психологических воздействий
1 050 руб.
МЭК 61300-1:2016
Устройства соединительные и пассивные компоненты волоконно-оптические. Основные методы испытаний и измерений. Часть 1. Общие положения и руководство
840 руб.