МЭК 62047-13:2012

МЭК 62047-13:2012

Название на английском:
IEC 62047-13:2012

Название на русском:
МЭК 62047-13:2012

Описание на английском:
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 13: Bend - and shear - type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures

Описание на русском:
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические приборы. Часть 13. Методы измерения прочности сцепления при испытании на изгиб и сдвиг микроэлектромеханических структур MEMS

Статус документа:
Действующий

Формат:
Electronic (PDF)

Количество страниц:
34

Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия документа):
4 рабочих дней

Артикул (SKU):
IEC005639

Выберите версию документа:
840 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

МЭК 61744:2005
Калибрование испытательных установок цветового рассеяния для оптических волокон
1 050 руб.
МЭК 62055-31:2005/Попр.1:2007
Электрические измерения. Системы измерения оплаты. Часть 31. Частные требования. Статичные счетчики оплаты активной электроэнергии (классы 1 и 2). Поправка 1
560 руб.
МЭК 60645-6:2009
Электроакустика. Аудиологическое оборудование. Часть 6. Приборы для измерения оптоакустических излучений
840 руб.
МЭК 60268-6:1971
Оборудование звуковых систем. Часть 6: Вспомогательные пассивные устройства
840 руб.
МЭК 62397:2007
Электростанции атомные. Контрольно-измерительные приборы и автоматика для обеспечения безопасности. Детекторы температуры сопротивления
840 руб.
МЭК 60158-1:1970
Аппараты управления низковольтные. Часть 1. Контакторы
840 руб.