МЭК 62047-16:2015

МЭК 62047-16:2015

Название на английском:
IEC 62047-16:2015

Название на русском:
МЭК 62047-16:2015

Описание на английском:
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 16: Test methods for determining residual stresses of MEMS films - Wafer curvature and cantilever beam deflection methods

Описание на русском:
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 16. Методы определения остаточных напряжений в пленках MEMS. Методы определения отклонения консольной балки и кривизны пластины

Статус документа:
Действующий

Формат:
Electronic (PDF)

Количество страниц:
26

Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия документа):
3 рабочих дней

Артикул (SKU):
IEC005642

Выберите версию документа:
840 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

МЭК/ТР 60785:1984
Машины вращающиеся для электрических дорожных транспортных средств
840 руб.
МЭК 60335-2-80:2015
Бытовые и аналогичные электрические приборы. Безопасность. Часть 2-80: Частные требования к вентиляторам
840 руб.
МЭК 61165:2006
Применение методики Маркова для анализа общей надежности
840 руб.
МЭК 60457-4:1978
Линии жесткие прецизионные коаксиальные и соответствующие им соединители. Часть 4: Жесткая прецизионная коаксиальная линия с диаметром 21 мм и соответствующий ей прецизионный коаксиальный соединитель гибридного типа с волновым сопротивлением 50 Ом (тип 9/21) и 75 Ом (тип 6/21)
840 руб.
МЭК 60191-2:1966/Изм.20:2018
Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры. Изменение 20
840 руб.
МЭК 60728-1-2:2014
Сети кабельные для передачи телевизионных и звуковых сигналов и интерактивных услуг. Часть 1-2. Требования к рабочим характеристикам сигналов, переданных на выходе действующей системы
840 руб.