МЭК 62132-2:2010

МЭК 62132-2:2010

Название на английском:
IEC 62132-2:2010

Название на русском:
МЭК 62132-2:2010

Описание на английском:
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method

Описание на русском:
Интегральные схемы. Измерение стойкости к электромагнитным помехам от 150 kHz до 1 GHz. Часть 2. Измерение стойкости к излученным помехам. Ячейка ТЕМ и метод с использованием широкополосной ТЕМ

Статус документа:
Действующий

Формат:
Electronic (PDF)

Количество страниц:
54

Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия документа):
6 рабочих дней

Артикул (SKU):
IEC005791

Выберите версию документа:
840 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

МЭК 60191-3:1999
Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 3. Общие правила выполнения габаритных чертежей интегральных схем
1 050 руб.
МЭК/ТР 62617:2015
Машины стиральные бытовые. Отчет о неопределенности измерений
840 руб.
МЭК 62679-2:2018
Дисплеи электронных бумаг. Часть 2. Существенные номинальные значения параметров и характеристики
840 руб.
МЭК 60364-4-47:1981
Электрические установки зданий. Глава 47: Применение защитных мер для обеспечения безопасности. Раздел 470: Общие положения. Раздел 471: Меры защиты от электрического удара
560 руб.
МЭК 60050-481:1996
Международный электротехнический словарь. Глава 481. Первичные элементы и батареи
840 руб.
МЭК 60300-3-16:2008
Управление общей надежностью. Часть 3-16. Руководство по применению. Руководящие указания к спецификации служб поддержки технического обслуживания
840 руб.