МЭК 62374-1:2010

МЭК 62374-1:2010

Название на английском:
IEC 62374-1:2010

Название на русском:
МЭК 62374-1:2010

Описание на английском:
Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

Описание на русском:
Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для интерметаллических слоев

Статус документа:
Действующий

Формат:
Electronic (PDF)

Количество страниц:
36

Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия документа):
4 рабочих дней

Артикул (SKU):
IEC006163

Выберите версию документа:
840 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

МЭК 60748-11:1990/Изм.2:1999
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11: Групповые технические условия на полупроводниковые интегральные схемы за исключением гибридных схем. Изменение 2
560 руб.
МЭК 60068-1:2013
Испытание на воздействие внешних факторов. Часть 1: Общие положения и руководство
840 руб.
МЭК 60335-2-26:2008
Приборы электрические бытового и аналогичного назначения. Безопасность. Часть 2-26. Частные требования к часам
840 руб.
МЭК 61297:1995
Системы управления промышленным процессом. Классификация адаптивных контроллеров для их оценки
840 руб.
МЭК 62642-3:2010
Системы аварийной сигнализации. Системы прерывания и удерживания. Часть 3. Контрольные и индикаторные устройства
1 050 руб.
МЭК 60335-2-17:2015
Приборы электрические бытового и аналогичного назначения. Безопасность. Часть 2-17. Частные требования к одеялам, подушкам и подобным гибким обогревательным приборам
1 050 руб.