Название на английском:
IEC 62374-1:2010
Название на русском:
МЭК 62374-1:2010
Описание на английском:
Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
Описание на русском:
Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для интерметаллических слоев
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (pdf/doc)
Количество страниц:
36
Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия документа):
4 рабочих дней
Артикул (SKU):
IEC012621
Также интересуются следующими документами
МЭК 60399:2008
Резьба цилиндрическая для ламповых патронов с кольцом для крепления рассеивателя
Обычная цена: 3 500 руб.
Special Price 1 050 руб.
МЭК 60947-2:2006/Изм.1:2009
Устройства распределительные комплектные низковольтные. Часть 2. Автоматические выключатели. Изменение 1
Обычная цена: 3 500 руб.
Special Price 1 050 руб.
МЭК 61124:1997
Испытания на надежность. Контрольные испытания для постоянной интенсивности отказа и постоянного параметра потока отказов
Обычная цена: 3 500 руб.
Special Price 1 050 руб.
МЭК 60709:2004
Электростанции атомные. Контрольно-измерительные приборы и автоматика для обеспечения безопасности. Разделение
Обычная цена: 3 500 руб.
Special Price 1 050 руб.
МЭК 62423:2009/Попр.1:2011
Выключатели остаточных токов автоматические, типа F и В, со встроенной максимальной токовой защитой и без нее, бытового и аналогичного назначения (тип B RCCB и тип B RCBO). Поправка 1
Обычная цена: 2 100 руб.
Special Price 630 руб.
МЭК/TS 60034-18-41:2006
Машины электрические вращающиеся. Часть 18-41. Квалификационные и типовые испытания для систем электроизоляции типа I, используемых во вращающихся электрических машинах с питанием от преобразователей источника напряжения
Обычная цена: 3 500 руб.
Special Price 1 050 руб.