МЭК 62417:2010

МЭК 62417:2010

Название на английском:
IEC 62417:2010

Название на русском:
МЭК 62417:2010

Описание на английском:
Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs)

Описание на русском:
Полупроводниковые приборы. Испытания с подвижным ионом для полупроводниковых транзисторов с полевым эффектом металл-оксид

Статус документа:
Действующий

Формат:
Electronic (PDF)

Количество страниц:
20

Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия документа):
2 рабочих дней

Артикул (SKU):
IEC006223

Выберите версию документа:
840 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

МЭК 62264-5:2016
Интеграция систем управления предприятием. Часть 5. Операции «бизнес-производство»
1 750 руб.
МЭК 60096-2:1988 (1997)
Кабели радиочастотные. Часть 2: Частные технические условия на кабели
840 руб.
МЭК/ТС 62607-4-7:2018
Нанопроизводство. Контроль основных характеристик. Часть 4-7. Наноустройства, пригодные для накопления электроэнергии. Определение содержания магнитных частиц в анодных наноматериалах, метод оптической эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (ICP-OES)
840 руб.
МЭК 61075:1991
Приемники радионавигационной системы Лоран-С (Loran-C) для судов. Минимальные стандартные требования к эксплуатационным характеристикам. Методы испытаний и требуемые результаты испытаний
840 руб.
МЭК 61176:1993
Пилы электрические дисковые ручные, работающие от сети. Методы измерения рабочих характеристик
840 руб.
МЭК 60335-2-21:2018
Безопасность бытовых и аналогичных электрических приборов. Часть 2-21. Частные требования к аккумуляционным водонагревателям
1 050 руб.