МЭК 62417:2010

МЭК 62417:2010

Название на английском:
IEC 62417:2010

Название на русском:
МЭК 62417:2010

Описание на английском:
Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs)

Описание на русском:
Полупроводниковые приборы. Испытания с подвижным ионом для полупроводниковых транзисторов с полевым эффектом металл-оксид

Статус документа:
Действующий

Формат:
Electronic (PDF)

Количество страниц:
20

Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия документа):
2 рабочих дней

Артикул (SKU):
IEC006223

Выберите версию документа:
840 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

МЭК 60079-14:2013/Попр.1:2016
Взрывоопасные среды. Часть 14. Проектирование, выбор и монтаж электроустановок Поправка 1
560 руб.
МЭК 61965:2003
Механическая безопасность электронно-лучевых трубок
840 руб.
МЭК 62525:2007
Стандартный язык тестирования интерфейсов (STIL) для цифровых данных вектора тестирования
1 050 руб.
МЭК 60835-2-2:1994
Оборудование, используемое в цифровых системах радиопередачи СВЧ-диапазона. Методы измерений. Часть 2: Измерения, проводимые на наземных радиорелейных системах. Раздел 2: Антенна
840 руб.
МЭК 60534-9:2007
Клапаны регулирующие для промышленных процессов. Часть 9. Процедура испытания для измерений срабатывания при ступенчатых входных сигналах
840 руб.
МЭК 61189-2-719:2016
Методы испытаний электрических материалов, печатных плат и других структур межсоединений и сборочных узлов. Часть 2-719. Методы испытания материалов для структур межсоединений. Относительная диэлектрическая проницаемость и тангенс угла потерь (от 500 МГц до 10 ГГц)
840 руб.