ИСО 14706:2000

ИСО 14706:2000

Название на английском:
ISO 14706:2000

Название на русском:
ИСО 14706:2000

Описание на английском:
Surface chemical analysis. Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

Описание на русском:
Химический анализ поверхности. Определение загрязнения поверхности элементами на силиконовых пластинках методом флюоресцентной рентгеновской общеотражающей спектроскопии

Статус документа:
Заменен

Формат:
Электронный (pdf/doc)

Количество страниц:
28

Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия документа):
0 рабочий день

Артикул (SKU):
ISO007711

Выберите версию документа:
700 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

ИСО 3800-1:1977
Изделия крепежные резьбовые. Испытание на сопротивление усталости при осевой нагрузке. Методы испытаний

Обычная цена: 3 500 руб.

Special Price 700 руб.

ИСО 17850:2015
Фотография. Цифровые камеры. Измерение геометрического искажения

Обычная цена: 3 500 руб.

Special Price 700 руб.

ИСО/МЭК ISP 10611-5:2003
Информационные технологии. Международные стандартизованные профили AMH1n. Системы обработки сообщений. Унифицированный обмен сообщениями. Часть 5. AMH13. Доступ к MS (P7)

Обычная цена: 3 500 руб.

Special Price 700 руб.

ИСО 15886-1:2004
Оборудование оросительное сельскохозяйственное. Дождевальные установки. Часть 1. Определения терминов и классификация

Обычная цена: 3 500 руб.

Special Price 700 руб.

ИСО 9328-6:2004
Прокат плоский стальной для сосудов, работающих под давлением. Технические условия поставки. Часть 6. Свариваемая мелкозернистая закаленная и отпущенная сталь

Обычная цена: 3 500 руб.

Special Price 700 руб.

ИСО 11269-2:2005
Качество почвы. Определение воздействия загрязняющих веществ на флору почвы. Часть 2. Воздействие химикатов на всхожесть и рост высших растений

Обычная цена: 3 500 руб.

Special Price 700 руб.