ИСО 14706:2000

ИСО 14706:2000

Название на английском:
ISO 14706:2000

Название на русском:
ИСО 14706:2000

Описание на английском:
Surface chemical analysis. Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

Описание на русском:
Химический анализ поверхности. Определение загрязнения поверхности элементами на силиконовых пластинках методом флюоресцентной рентгеновской общеотражающей спектроскопии

Статус документа:
Заменен

Формат:
Электронный (pdf/doc)

Количество страниц:
28

Срок поставки (английская версия документа):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия документа):
4 рабочих дня(ей)

Артикул (SKU):
ISO028422

Выберите версию документа:
700 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

ИСО 683-11:1987
Стали термообработанные, легированные и автоматные. Часть 11. Деформируемые науглероживаемые стали
700 руб.
ИСО 14034:2016
Менеджмент окружающей среды. Верификация технологии по охране окружающей среды (ETV)
700 руб.
ИСО 230-3:2007
Нормы и правила испытаний станков. Часть 3. Определение теплового воздействия
700 руб.
ИСО 18593:2004
Микробиология пищевых продуктов и кормов для животных. Горизонтальные методы отбора проб с поверхностей с помощью контактных плаcтинок и тампонов
700 руб.
ИСО 1039:1975
Pliers and nippers; End cutting nippers; Dimensions
700 руб.
ИСО/ТР 22134:2007
Практическое руководство по социотерминологии
700 руб.