СТБ PDF

Полупроводниковые приборы. Дискретные приборы - оптоэлектронные приборы. Фотопары. Оригинальный стандарт BS EN 60747-5-5-2011 + A1-2015 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Withdrawn

Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний - устойчивость к температуре пайки для устройств, монтируемых в сквозные отверстия. Оригинальный стандарт BS EN 60749-15-2010 (2011) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Withdrawn

Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Устойчивость SMD-компонентов в пластиковой оболочке к комбинированному воздействию влаги и тепла при пайке. Оригинальный стандарт BS EN 60749-20-2009 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен СТБ BS EN IEC 60749-20-2020

Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний - тестирование чувствительности к электростатическому разряду (ЭСР). Модель человеческого тела (HBM). Оригинальный стандарт BS EN 60749-26-2014 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен

Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний - тестирование чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель заряженного устройства (CDM). Уровень устройства. Оригинальный стандарт BS EN 60749-28-2017 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Withdrawn

Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Предварительная подготовка негерметичных устройств поверхностного монтажа перед испытаниями на надежность. Оригинальный стандарт BS EN 60749-30-2005 + A1-2011 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Withdrawn