Статистические методы. Способность обнаружения. Часть 6. Методология определения критического значения и минимального обнаруживаемого значения с применением аппроксимации распределения Пуассона нормальным распределением
Модули фотоэлектрические. Оценка соответствия техническим требованиям. Часть 1.3. Специальные требования к испытаниям тонкопленочных фотоэлектрических модулей на основе аморфного кремния