Yandex.Metrika counter

ГОСТ 26239.5-84

ГОСТ 26239.5-84
Наведите чтобы загрузить изображение

Название на английском:
GOST 26239.5-84

Название на русском:
ГОСТ 26239.5-84

Описание на английском:

Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination

Описание на русском:
Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей

Статус документа:
Действующий

Формат:
Электронный (PDF)

Количество страниц:
18

Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия):
1 рабочий день

Артикул (SKU):
GOST30324

Выберите версию документа:
1 200 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

ГОСТ 14340.7-74
Провода эмалированные круглые. Метод испытания изоляции напряжением
1 200 руб.
ГОСТ Р 55857-2013
Одеяла и покрывала стеганые. Подушки. Общие технические условия
1 200 руб.
ГОСТ 30630.0.1-2002
Методы испытаний на стойкость к внешним воздействующим факторам машин, приборов и других технических изделий. Комбинированные испытания
3 000 руб.
ГОСТ 11326.69-79
Кабель радиочастотный марки РК 75-1,5-12. Технические условия
1 200 руб.
ГОСТ Р 57009-2016
Композиты полимерные. Метод определения характеристик при расслоении клеевых соединений
1 200 руб.
ГОСТ 15068-75
Оправки с поддерживающей втулкой и хвостовиком конусностью 7:24 для горизонтально-фрезерных станков. Конструкция и размеры
1 200 руб.