ASTM B487-85 (2013) rus PDF

Ст ASTM B487-85 (2013) rus

Название на английском:
St ASTM B487-85 (2013) rus

Название на русском:
Ст ASTM B487-85 (2013) rus

Описание на русском:

Оригинальный стандарт ASTM B487-85 (2013) на русском в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Описание на английском:
Original standard ASTM B487-85 (2013) rus in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий

Формат:
Электронный (PDF)

Срок поставки (русская версия):
1 рабочий день

Артикул (SKU):
stastm23215

6 000 руб.

Полное наименование и описание

Стандарт ASTM B487‑85 (Reapproved 2013) — "Standard Test Method for Measurement of Metal and Oxide Coating Thickness by Microscopical Examination of Cross Section". Описывает методику измерения локальной толщины металлов и оксидных покрытий путем микроскопического исследования поперечных сечений образцов.

Аннотация

Методика предназначена для измерений толщины тонких металлических и оксидных покрытий с помощью оптического микроскопа; при хороших условиях возможна абсолютная точность порядка 0,8 мкм. Стандарт применим для приёмочного контроля покрытий и содержит требования по подготовке образцов (монтаж, шлифование, полирование, травление), технике измерения и оформлению результатов, а также примечания по типичным ошибкам (скол краёв, смазывание, недостаточное травление) и безопасности при работе с химикатами.

Общая информация

  • Статус: Исторический / переутверждённая редакция 2013 г.; с тех пор были выпущены более поздние редакции стандарта (B487‑20, B487‑24), текущая активная редакция — B487‑24 (по состоянию на 16 дек. 2024).
  • Дата публикации: Текущая переутверждённая редакция утверждена 1 дек. 2013 (издание 2013 г.).
  • Организация-издатель: ASTM International (Комитет B08 — Metallic and Inorganic Coatings, подкомитет B08.10 — Test Methods).
  • ICS / категории: 17.040.20 — Properties of surfaces (свойства поверхностей).
  • Редакция / версия: Обозначение B487 − 85 (Reapproved 2013); DOI редакции 2013 указан как 10.1520/B0487-85R13.
  • Количество страниц: 4 страницы (версия 2013).

Область применения

Стандарт охватывает измерение локальной толщины металлических и оксидных покрытий посредством микроскопического исследования поперечных сечений, выполненных на подготовленных образцах. Метод пригоден для контроля качества и приёмочных испытаний покрытий, в том числе в прикладных областях, где требуются точные значения толщины покрытия (промышленное электроосаждение, декоративные и функциональные покрытия, научно‑исследовательские лаборатории). При хорошем исполнении оптического метода достигается возможность определения толщины с точностью порядка 0,8 мкм.

Ключевые темы и требования

  • Подготовка образцов: резка, монтаж в смолу, последовательное шлифование и полирование для получения качественного поперечного сечения.
  • Защита краёв покрытия (overplating) для предотвращения удаления материала при подготовке и получения искажённых результатов.
  • Травление и оптическая контрастность интерфейса для чёткого определения границы слой/подложка.
  • Измерение под оптическим микроскопом с калибровкой окуляр‑микрометра и учётом возможных систематических погрешностей; рекомендованная ориентировочная абсолютная точность — до 0,8 мкм при благоприятных условиях.
  • Регистрация и отчётность: указание метода подготовки, числа измерений, статистики распределения толщины, погрешностей и условий микроскопии.
  • Безопасность: указания по обращению с химикатами для травления и полировки; ответственность пользователя за соблюдение норм охраны труда.

Применение и пользователи

Стандарт востребован в лабораториях контроля качества покрытий, у поставщиков и потребителей гальванических и других металлизационных покрытий, в металлографических службах, а также в таких отраслях, как аэрокосмическая, автомобильная, электротехническая и оборонная промышленность. ASTM указывает, что данная методика была одобрена для использования ведомствами Министерства обороны США, что подчёркивает её практическое значение при приёмочных испытаниях.

Связанные стандарты

В тексте и в смежных спецификациях часто упоминаются методы измерения толщины покрытий альтернативными способами и сопутствующие практики: ASTM B499 (магнитный метод), B504 (кулонометрический метод), B568 (измерение толщины методом рентгеновской спектрометрии / XRF), а также ряд практик по подготовке поверхностей и металлографии. Эти стандарты обычно приводятся как нормативные или справочные в спецификациях по покрытиям.

Ключевые слова

толщина покрытия; микроскопическое измерение; поперечное сечение; металлография; подготовка образцов; overplating; травление; оптический микроскоп; приёмочные испытания.

FAQ

В: Что это за стандарт?

О: ASTM B487‑85 (Reapproved 2013) — метод испытаний для измерения толщины металлических и оксидных покрытий методом микроскопической оценки поперечных сечений.

В: Что он регулирует?

О: Описывает порядок подготовки образцов (монтаж, шлифование, полирование, травление), технику получения и оценки поперечного сечения под оптическим микроскопом, требования к калибровке и оформлению результатов; указывает ограничения точности и типичные источники ошибок.

В: Кто обычно использует?

О: Металлографические и испытательные лаборатории, службы контроля качества покрытий, производители покрытий, отрасли с жёсткими требованиями к покрытию (авиация, оборона, электроника и др.).

В: Он актуален или заменён?

О: Редакция 1985 была переутверждена в 2013 году; с 2020 и 2024 годов доступны более поздние редакции (B487‑20 и текущая активная редакция B487‑24 по состоянию на 16 декабря 2024). Поэтому версия 2013 считается исторической/переутверждённой и в ряде приложений заменена более поздними выпусками. Рекомендуется проверять актуальную редакцию у издателя (ASTM) перед использованием в сертификационных или нормативных документах.

В: Это часть серии?

О: Метод B487 входит в набор стандартов ASTM, посвящённых измерению толщины покрытий и подготовке поверхностей; он межсвязан с другими стандартами группы B (например, B499, B504, B568) и с практиками по подготовке металлов и испытанию покрытий.

В: Какие ключевые слова?

О: Толщина покрытия, поперечное сечение, микроскопия, металлография, подготовка образцов, overplating, травление, калибровка, точность 0,8 мкм.