ASTM F110-00a PDF
Название на английском:
St ASTM F110-00a
Название на русском:
Ст ASTM F110-00a
Описание на русском:
Стандартный метод определения толщины эпитаксиальных или диффузионных слоёв в кремнии методом косого шлифа и окрашивания (отменён в 2003 году). Оригинальный стандарт ASTM F110-00a в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Standard Test Method for Thickness of Epitaxial or Diffused Layers in Silicon by the Angle Lapping and Staining Technique (Withdrawn 2003). Original standard ASTM F110-00a in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Утратил силу
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
4
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stastm15006
More technical details are being prepared for this document.