ASTM F419-94 PDF
Название на английском:
St ASTM F419-94
Название на русском:
Ст ASTM F419-94
Описание на русском:
Метод определения концентрации носителей заряда в эпитаксиальных слоях кремния измерением вольт-фарадных характеристик изготовленных диодов с p-n-переходом или диодов Шоттки (отменён в 2001 году). Оригинальный стандарт ASTM F419-94 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Test Method for Determining Carrier Density in Silicon Epitaxial Layers by Capacitance-Voltage Measurements on Fabricated Junction or Schottky Diodes (Withdrawn 2001). Original standard ASTM F419-94 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Утратил силу
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
12
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stastm17621
More technical details are being prepared for this document.