ASTM F657-92 (1999) PDF
Название на английском:
St ASTM F657-92 (1999)
Название на русском:
Ст ASTM F657-92 (1999)
Описание на русском:
Стандартный метод измерения коробления и общей разнотолщинности кремниевых пластин бесконтактным сканированием (отменён в 2003 году). Оригинальный стандарт ASTM F657-92 (1999) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Standard Test Method for Measuring Warp and Total Thickness Variation on Silicon Wafers by Noncontact Scanning (Withdrawn 2003). Original standard ASTM F657-92 (1999) in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Утратил силу
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
10
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stastm17869
More technical details are being prepared for this document.