ASTM F95-89 (2000) PDF
Название на английском:
St ASTM F95-89 (2000)
Название на русском:
Ст ASTM F95-89 (2000)
Описание на русском:
Стандартный метод определения толщины слаболегированных эпитаксиальных слоёв кремния на сильнолегированных кремниевых подложках инфракрасным дисперсионным спектрофотометром (отменён в 2003 году). Оригинальный стандарт ASTM F95-89 (2000) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Standard Test Method for Thickness of Lightly Doped Silicon Epitaxial Layers on Heavily Doped Silicon Substrates Using an Infrared Dispersive Spectrophotometer (Withdrawn 2003). Original standard ASTM F95-89 (2000) in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Утратил силу
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
8
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stastm18185
More technical details are being prepared for this document.