IPC 2517A-2000 PDF

Ст IPC 2517A-2000

Название на английском:
St IPC 2517A-2000

Название на русском:
Ст IPC 2517A-2000

Описание на русском:

Оригинальный стандарт IPC 2517A-2000 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Описание на английском:
Original standard IPC 2517A-2000 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий

Формат:
Электронный (PDF)

Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия):
250 рабочих дня(ей)

Артикул (SKU):
Stipc127

Выберите версию документа:
4 200 руб.

Полное наименование и описание

Ст IPC 2517A-2000 — «Sectional Requirements for Implementation of Assembly In-Circuit Test Data Description»; секционные требования по реализации описания данных для испытаний плат в режиме in-circuit (GenCAM, ASEMT). Документ устанавливает формат и требования к представлению данных, используемых при описании и передаче информации об испытаниях плат в технологии in-circuit.

Аннотация

Стандарт определяет структуру данных и синтаксические/семантические правила для описания процедур и параметров in-circuit тестирования печатных плат и сборок. Предназначен для обмена информацией между разработчиками, сборщиками, тестовыми лабораториями и CAM/ATE-решениями, обеспечивает совместимость CAD–CAM/ATE при передаче тестовой информации и требования к единицам измерения и проверочным модулям.

Общая информация

  • Статус: No Longer Maintained (документ с ревизией Rev A, выпущен в 2000 г.; не поддерживается в активном цикле обновлений IPC на данный момент).
  • Дата публикации: 01 ноября 2000 (Rev A, 2000-11-01).
  • Организация-издатель: IPC — Association Connecting Electronics Industries (издатель и владелец стандарта).
  • ICS / категории: Электроника — разделы, относящиеся к печатным платам и электронным сборкам (рекомендуемые коды ICS: 31.180, 31.190).
  • Редакция / версия: Rev A (версия A, выпущена в ноябре 2000).
  • Количество страниц: 24 страницы (англ.).

Область применения

Стандарт применяется при организации обмена данными между CAD/EDA-средствами, CAM-системами, устройствами автоматизированного тестирования (ATE) и производственными системами при описании in-circuit тестов для собранных плат. Ориентирован на производителей электронных сборок, разработчиков тестовых процедур и поставщиков программного обеспечения для автоматизации тестирования.

Ключевые темы и требования

  • Формат данных для описания in-circuit тестов (синтаксис и семантика описательных блоков).
  • Требование включения и соблюдения положений IPC-2511 как обязательной части при реализации секционного стандарта.
  • Указания по единицам измерения (английские и SI) и проверочным модулям (CTM) для валидации синтаксиса/семантики данных.
  • Интераоперабельность CAD → CAM и CAM → CAM в контексте передачи тестовой информации.
  • Общие требования GenCAM к структуре и разделам данных ASEMT (Assembly In‑Circuit Testing Data Description).

Применение и пользователи

Основные пользователи: инженеры по тестированию и верификации плат, разработчики тестовых программ для ATE, поставщики CAM/ATE и MES-решений, контрактные производители электроники (EMS) и отделы контроля качества. Стандарт полезен при интеграции тестовых данных в цикл производства и при автоматизации подготовки тестовых процедур.

Связанные стандарты

Документ является частью серии GenCAM и тесно связан с IPC-2511 (Generic Requirements for Implementation of Product Manufacturing Description Data and Transfer Methodology), а также с другими секционными стандартами серии 251x (IPC-2512, IPC-2513, IPC-2514A, IPC-2515A, IPC-2516A, IPC-2518A и т. п.). Рекомендуется изучать семейство 251x совместно для полного понимания обмена данными в производственном цикле.

Ключевые слова

IPC-2517A, ASEMT, GenCAM, in-circuit test, описание данных, CAM, CAD‑to‑CAM, тестовые процедуры, IPC-2511, обмен данными, ATE.

FAQ

В: Что это за стандарт?

О: Секционный стандарт IPC-2517A-2000 описывает требования к формату и содержанию данных, используемых для описания in-circuit тестирования сборок печатных плат (Assembly In‑Circuit Testing Data Description).

В: Что он регулирует?

О: Регулирует структуру данных, синтаксис и семантику описательных блоков для in-circuit тестов, правила единиц измерения и требования к проверочным модулям для обеспечения корректной передачи тестовой информации между CAD/CAM/ATE.

В: Кто обычно использует?

О: Инженеры по тестированию плат, производственные и лабораторные подразделения EMS, разработчики CAM/ATE программного обеспечения, а также специалисты по интеграции данных и автоматизации производства.

В: Он актуален или заменён?

О: Ревизия Rev A была выпущена 01 ноября 2000; согласно таблице документов IPC этот и ряд смежных документов серии 251x помечены как «No Longer Maintained», то есть на настоящий момент стандарт не находится в активном цикле регулярных обновлений. При внедрении рекомендуется проверять наличие более новых документов или рекомендаций IPC по обмену данными.

В: Это часть серии?

О: Да — IPC-2517A входит в серию секционных стандартов GenCAM (серия 251x) и тесно связана с IPC-2511 (обязательная базовая часть), а также со смежными секциями IPC-2512…IPC-2518.

В: Какие ключевые слова?

О: GenCAM, ASEMT, in-circuit testing, data description, IPC-2511, CAD-to-CAM, ATE, CAM, IPC-2517A.