DIN EN ISO 9220 1995-01 PDF

Полное наименование и описание

STB DIN EN ISO 9220 1995-01 — «Metallic coatings — Measurement of coating thickness — Scanning electron microscope method». Стандарт описывает разрушительный метод измерения местной толщины металлических (и некоторых неорганических) покрытий по шлифу с использованием растрового электронного микроскопа (REM / SEM).

Аннотация

Нормативный документ устанавливает процедуру подготовки поперечных срезов покрытия, требования к оборудованию SEM (включая калибровку масштаба), методику измерений и оценку погрешности. Метод применим для толщин вплоть до нескольких миллиметров, при этом точность заявлена лучше 10 % или 0,1 мкм (большее из двух). В документе указаны предельные возможности метода и обстоятельства, когда целесообразнее использовать оптический металлографический микроскоп (ISO 1463).

Общая информация

• Статус: Национальная/европейская редакция (DIN EN ISO 9220) — историческая редакция 1994/1995; международная версия ISO 9220 (1988) — отозвана; заменён новой редакцией ISO 9220:2022.
• Дата публикации: международная версия ISO 9220 первоначально опубликована в 1988 (ISO 9220:1988); европейское/немецкое внедрение как EN ISO / DIN EN ISO датируется 1994–1995 (включая обозначение DIN EN ISO 9220:1995-01).
• Организация-издатель: International Organization for Standardization (ISO) — оригинальный издатель; принятие как EN ISO и национальное издание публиковалось национальными органами (CEN / DIN для немецкой версии).
• ICS / категории: 25.220.40 — Metallic coatings (металлические покрытия).
• Редакция / версия: редакция ISO 9220:1988 (изначальная, 1-е издание); эквивалент EN/BS/DIN EN ISO выпущены в середине 1990-х годов (1994/1995); пересмотрён и опубликован как ISO 9220:2022.
• Количество страниц: оригинал ISO 9220:1988 — короткий документ (ок. 5 страниц в ISO-версии); европейские/национальные издания 1994/1995 в разных публикациях указывают ~12–19 страниц в зависимости от оформления (пример: BS/EN-версия 1995 — 18 страниц в описании базы данных).

Область применения

Стандарт предназначен для лабораторий контроля качества, производств покрытий, исследовательских и аналитических центров, выполняющих локальные измерения толщины металлических и некоторых неорганических покрытий методом исследования поперечных срезов в SEM. Метод применяется при необходимости высокой локальной точности и при измерениях тонких слоёв, когда требуемая погрешность соответствует возможностям SEM.

Ключевые темы и требования

• Подготовка поперечного среза покрытия (шлиф, крепление, монтаж) и указания по сохранению границ «подложка/покрытие».
• Требования к SEM: разрешающая способность, калибровка масштаба (стадийный микрометр/гратикул) и режимы изображений для достоверных измерений.
• Методика измерений: выбор мест для измерения, число точек, способ считывания толщины по изображению шлифа.
• Оценка погрешности: методическая неопределённость не более 10 % или 0,1 мкм (большее из двух), указания по учёту систематических и случайных ошибок.
• Ограничения и альтернативы: применение для очень толстых покрытий (несколько мм) возможно, но чаще практичнее применять оптический металлографический метод (ISO 1463).

Применение и пользователи

Типичные пользователи — лаборатории контроля покрытия, предприятия электрохимического осаждения и вакуумного напыления, металлографические и аналитические лаборатории, организации по сертификации и инспекции. Стандарт полезен при приёмочном контроле покрытий, анализе брака, исследовании коррозионных защит и научно-исследовательских работах.

Связанные стандарты

Нормативные ссылки и родственные документы: ISO 1463 (оптический металлографический метод измерения толщины покрытия), ISO 2064 (определения и соглашения по измерению толщины покрытий) и другие стандарты по испытаниям покрытий; последующая редакция — ISO 9220:2022, которая заменяет ранние редакции.

Ключевые слова

покрытия, толщина покрытия, измерение толщины, растровый электронный микроскоп, SEM, металлография, метод по шлифу, контроль качества, DIN EN ISO 9220, ISO 9220:1988, ISO 9220:2022

FAQ

В: Что это за стандарт?

О: Это международный метод измерения местной толщины металлических покрытий с использованием растрового электронного микроскопа (SEM), оформленный как ISO 9220 и принятый в европейских/национальных редакциях (EN ISO / DIN EN ISO).

В: Что он регулирует?

О: Процедуру подготовки поперечных срезов, требования к инструментам и калибровке, методику проведения измерений и оценку погрешностей при использовании SEM для измерения толщины покрытий.

В: Кто обычно использует?

О: Лаборатории контроля покрытий, производства покрытий (электрохимические, вакуумные и др.), исследовательские и материаловедческие лаборатории, инспекционные и сертификационные организации.

В: Он актуален или заменён?

О: Ранние редакции (ISO 9220:1988 и соответствующие EN/DIN-версии 1994/1995) отозваны/заменены: действующей международной редакцией является ISO 9220:2022 (опубликована в феврале 2022 года). Для прикладных работ рекомендуется использовать последнюю редакцию.

В: Это часть серии?

О: Стандарт сам по себе целевой, но связан с другими документами по измерению и определению толщины покрытий (например, ISO 1463, ISO 2064 и ряд стандартов по испытаниям и подготовке образцов).

В: Какие ключевые слова?

О: SEM, REM, толщина покрытия, металлические покрытия, измерение толщины, шлиф, металлография, DIN EN ISO 9220, ISO 9220.