СТБ UNE-EN 62047-13-2012

Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства - методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления структур MEMS. Оригинальный стандарт UNE-EN 62047-13-2012 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

6 000 руб.

Подробности

СТБ UNE-EN 62047-14-2012

Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Метод измерения предела формования металлических пленочных материалов. Оригинальный стандарт UNE-EN 62047-14-2012 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

6 000 руб.

Подробности

СТБ UNE-EN 62047-16-2015

Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства - методы испытаний для определения остаточных напряжений в пленках МЭМС. Методы измерения кривизны пластины и отклонения консольной балки. Оригинальный стандарт UNE-EN 62047-16-2015 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

6 000 руб.

Подробности

СТБ UNE-EN 62047-19-2013

Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Электронные компасы. Оригинальный стандарт UNE-EN 62047-19-2013 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

6 000 руб.

Подробности

СТБ UNE-EN 62047-20-2014

Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства - гироскопы. Оригинальный стандарт UNE-EN 62047-20-2014 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

6 000 руб.

Подробности

СТБ UNE-EN 62047-2-2006

Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства - метод испытания на растяжение тонкопленочных материалов. Оригинальный стандарт UNE-EN 62047-2-2006 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

6 000 руб.

Подробности

СТБ PDF