СТБ PDF
Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Обращение, упаковка, маркировка и транспортировка поверхностно-монтируемых устройств, чувствительных к комбинированному воздействию влаги и тепла при пайке. Оригинальный стандарт UNE-EN 60749-20-1-2009 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Устойчивость SMD-компонентов в пластиковой оболочке к комбинированному воздействию влаги и тепла при пайке. Оригинальный стандарт UNE-EN 60749-20-2009 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Заменен СТБ UNE-EN IEC 60749-20-2020
Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний - паяемость. Оригинальный стандарт UNE-EN 60749-21-2011 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний - тест на защелкивание. Оригинальный стандарт UNE-EN 60749-29-2011 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 32: Воспламеняемость устройств в пластиковом корпусе (возгорание, вызванное внешними факторами). Оригинальный стандарт UNE-EN 60749-32-2004 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий
Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Метод тестирования программных ошибок для полупроводниковых приборов с памятью. Оригинальный стандарт UNE-EN 60749-38-2008 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Статус: Действующий