ASTM F1526-95 (2000) PDF
Название на английском:
St ASTM F1526-95 (2000)
Название на русском:
Ст ASTM F1526-95 (2000)
Описание на русском:
Стандартный метод измерения загрязнения поверхности кремниевых пластин металлами методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии полного отражения (отменён в 2003 году). Оригинальный стандарт ASTM F1526-95 (2000) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Standard Test Method for Measuring Surface Metal Contamination on Silicon Wafers by Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectroscopy (Withdrawn 2003). Original standard ASTM F1526-95 (2000) in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Утратил силу
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
7
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stastm15468
More technical details are being prepared for this document.