ASTM F1530-02 PDF
Название на английском:
St ASTM F1530-02
Название на русском:
Ст ASTM F1530-02
Описание на русском:
Стандартный метод измерения плоскостности, толщины и разнотолщинности кремниевых пластин автоматизированным бесконтактным сканированием (отменён в 2003 году). Оригинальный стандарт ASTM F1530-02 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Standard Test Method for Measuring Flatness, Thickness, and Thickness Variation on Silicon Wafers by Automated Noncontact Scanning (Withdrawn 2003). Original standard ASTM F1530-02 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Утратил силу
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
12
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stastm15473
More technical details are being prepared for this document.