ASTM F1535-00 PDF
Название на английском:
St ASTM F1535-00
Название на русском:
Ст ASTM F1535-00
Описание на русском:
Стандартный метод определения времени жизни носителей до рекомбинации в кремниевых пластинах бесконтактным измерением спада фотопроводимости по отражению микроволнового излучения (отменён в 2003 г.). Оригинальный стандарт ASTM F1535-00 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Standard Test Method for Carrier Recombination Lifetime in Silicon Wafers by Noncontact Measurement of Photoconductivity Decay by Microwave Reflectance (Withdrawn 2003). Original standard ASTM F1535-00 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Утратил силу
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
12
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stastm15478
More technical details are being prepared for this document.