ASTM F1810-97 (2002) PDF
Название на английском:
St ASTM F1810-97 (2002)
Название на русском:
Ст ASTM F1810-97 (2002)
Описание на русском:
Стандартный метод подсчёта поверхностных дефектов кремниевых пластин, выявленных избирательным травлением или декорированием (отменён в 2003 г.). Оригинальный стандарт ASTM F1810-97 (2002) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Standard Test Method for Counting Preferentially Etched or Decorated Surface Defects in Silicon Wafers (Withdrawn 2003). Original standard ASTM F1810-97 (2002) in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Утратил силу
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
4
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stastm15771
More technical details are being prepared for this document.