ASTM F522-94 PDF
Название на английском:
St ASTM F522-94
Название на русском:
Ст ASTM F522-94
Описание на русском:
Метод определения плотности дефектов упаковки в эпитаксиальных слоях кремния методом интерференционно-контрастной микроскопии (отменён в 1998 году). Оригинальный стандарт ASTM F522-94 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Test Method for Stacking Fault Density of Epitaxial Layers of Silicon by Interference-Contrast Microscopy (Withdrawn 1998). Original standard ASTM F522-94 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Заменен Ст ASTM F1810-97 (2002)
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
4
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stastm17728
More technical details are being prepared for this document.