ASTM F576-01 PDF
Название на английском:
St ASTM F576-01
Название на русском:
Ст ASTM F576-01
Описание на русском:
Стандартный метод измерения толщины и показателя преломления изолятора на кремниевых подложках методом эллипсометрии (отменён в 2003 году). Оригинальный стандарт ASTM F576-01 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Standard Test Method for Measurement of Insulator Thickness and Refractive Index on Silicon Substrates by Ellipsometry (Withdrawn 2003). Original standard ASTM F576-01 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Утратил силу
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
9
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stastm17780
More technical details are being prepared for this document.