ASTM F613-93 PDF
Название на английском:
St ASTM F613-93
Название на русском:
Ст ASTM F613-93
Описание на русском:
Метод измерения диаметра полупроводниковых пластин (отменён в 2001 году). Оригинальный стандарт ASTM F613-93 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Test Method for Measuring Diameter of Semiconductor Wafers (Withdrawn 2001). Original standard ASTM F613-93 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Утратил силу
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
5
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stastm17821
More technical details are being prepared for this document.