IEC TR 63133-2017 PDF
Название на английском:
St IEC TR 63133-2017
Название на русском:
Ст IEC TR 63133-2017
Описание на русском:
Полупроводниковые приборы - Оценка уровня старения полупроводниковых устройств на основе сканирования. IEC TR 63133:2017-10(en). Оригинальный стандарт IEC TR 63133-2017 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices. IEC TR 63133:2017-10(en). Original standard IEC TR 63133-2017 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
22
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiec09189
More technical details are being prepared for this document.