ISO 12406-2010 PDF
Название на английском:
St ISO 12406-2010
Название на русском:
Ст ISO 12406-2010
Описание на русском:
Химический анализ поверхности - Масс-спектрометрия вторичных ионов - Метод профилирования содержания мышьяка в кремнии по глубине. Оригинальный стандарт ISO 12406-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for depth profiling of arsenic in silicon. Original standard ISO 12406-2010 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
20
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiso03015
More technical details are being prepared for this document.